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Artikelnummer: 61136
für JOMESA-Mikroskope (1-fach)
400,00 € *
Artikelnummer: 61137
für LEICA- und ZEISS Mikroskope und dhs-Cleanalyzer (1-fach)
400,00 € *
Artikelnummer: 6004374
für JOMESA-Mikroskope (6-fach)
2.850,00 € *
Artikelnummer: 61611
für JOMESA-Mikroskope (1-fach)
400,00 € *
Artikelnummer: 61544
für JOMESA-Mikroskope
1.000,00 € *

Fixierungen zur Probenaufnahme für Mikroskopietische

Das Thema „technische Sauberkeit“ ist für moderne technische Produkte, die z. B. in der Luft- und Raumfahrt-, Automobil-, Pharma- und Medizintechnikindustrie von entscheidender Wichtigkeit. Denn die Anforderungen an die Bauteilsauberkeit und damit auch an eine sauberkeitsgerechte Produktion und Montage steigen kontinuierlich. Die Regelwerke VDA Band 19 bilden den Rahmen zur Ermittlung der technischen Sauberkeit und stellen verbindliche Vorgaben auf, um die technische Sauberkeit zu überprüfen. Um Störeinflüsse zu ermitteln und Risiken zu bewerten, werden an partikelrelevanten Stellen in der Montageumgebung oder anderen Prozessbereichen Partikelfallen ausgelegt. Diese werden nach Ablauf einer definierten Frist wieder eingesammelt und unter einem Mikroskop manuell oder automatisiert quantifiziert und analysiert. Zur Fixierung der Partikelfalle bei der mikroskopischen Auswertung ist eine Probeaufnahme für Mikroskopietische erforderlich, die eine exakte Auswertung der Partikelverunreinigungen erlaubt.

In der Kategorie Probeaufnahme für Mikroskopietische haben wir für Sie verschiedene Fixierungen für Partikelfallen, Partikelstempel und Partikelwippen zusammengestellt. Sie können bei CleanControlling eine solche Probeaufnahme für Mikroskopietische von verschiedenen renommierten Herstellern bestellen. Es handelt sich jeweils um eine Einlegeplatte aus eloxiertem Aluminium, die passgenau auf das jeweilige Mikroskopsystem abgestimmt ist. Die Partikelfalle wird einfach in die Probeaufnahme für Mikroskopietische eingeschoben und so für die folgende Analyse fixiert.

Wir bieten eine 1-fache Probeaufnahme für Mikroskopietische mit LEICA-, dhs-Cleanalyzer oder JOMESA-Mikroskope sowie eine 6-fache Fixierung für Partikelfallen, die mit JOMESA-Mikroskopen analysiert werden können. Diese aus eloxiertem Aluminium und Stahl gefertigte Einlegeplatte zur Probeaufnahme für Mikroskopietische ist passgenau auf den 6-fach Probentisch von JOMESA für das JOMESA-Mikroskopsystem abgestimmt. Sie ermöglicht die exakte und effiziente Auswertung von bis zu sechs Partikelfallen, ohne dass die Fixierung gewechselt werden muss.

Fixierungen für Partikelstempel und Partikelwippen

Während Partikelfallen Störeinflüsse in einem Prozessbereich über einen bestimmten Zeitraum ermittelbar machen, dienen Partikelstempel dazu, die vorliegende Oberflächenverunreinigung auf einer begrenzten Fläche zu bestimmen und zu bewerten: Partikel werden durch das Aufdrücken und Wiederablösen des Klebestempels auf der zu untersuchenden Oberfläche aufgenommen und bleiben auf der Klebefläche haften. Anschließend wird der Partikelstempel geschlossen und sauberkeitsgerecht zur mikroskopischen Analyse verbracht.

Ist die zu bewertende Oberfläche größer, kommen anstelle von Partikelstempeln Partikelwippen zur Anwendung. Diese ermöglichen die Aufnahme der Partikel von großflächigen Oberflächen, z. B. Behälter und Verpackungen, Lagerflächen, großformatigen Bauteilen, Fahrwegen oder Montagearbeitsplätzen. Auch hierfür finden Sie bei CleanControlling jeweils die passende Probeaufnahme für Mikroskopietische.

Für JOMESA-Mikroskope führen wir bei CleanControlling auch Fixierungen für Partikelstempel und Partikelwippen. Die Fixierung für Partikelstempel ist aus eloxiertem Aluminium gefertigt und passgenau auf Mikroskopsysteme vom JOMESA abgestimmt. Auf der Einlegeplatte wird der Partikelstempel mittig positioniert und fixiert. Anschließend wird die Platte in den Mikroskopietisch eingelegt, um die Partikelverunreinigungen exakt manuell oder automatisiert zu bestimmen.

Bestellen Sie Verbrauchsmaterialien und Zubehör zum Partikelmonitoring sowie die passende Probeaufnahme für Mikroskopietische bequem online. Wenn Sie über keine technischen Möglichkeiten zur mikroskopischen Auswertung und Analyse verfügen, bieten wir Analysen für Partikelfallen, Partikelstempel und Partikelwippen an. Die Partikel werden hierbei entsprechend den Vorgaben der VDA 19.1 bzw. ISO 16232 in Größenklassen erfasst und typisiert, eine festgelegte Anzahl der jeweils größten Partikel werden auch bildlich dokumentiert. Schicken Sie uns einfach eine unverbindliche Anfrage per E-Mail oder über unser Kontaktformular, wir melden uns dann zeitnah bei Ihnen.